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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 1/2015

01.01.2015

Transmission Electron Microscopy Study of Mg2Si0.5Sn0.5 Solid Solution for High-Performance Thermoelectrics

verfasst von: Ji-Wei Liu, Minghui Song, Masaki Takeguchi, Naohito Tsujii, Yukihiro Isoda

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 1/2015

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Metadaten
Titel
Transmission Electron Microscopy Study of Mg2Si0.5Sn0.5 Solid Solution for High-Performance Thermoelectrics
verfasst von
Ji-Wei Liu
Minghui Song
Masaki Takeguchi
Naohito Tsujii
Yukihiro Isoda
Publikationsdatum
01.01.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 1/2015
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-014-3419-4

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