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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

4. Ultra-thin Wafer Fabrication Through Dicing-by-Thinning

verfasst von : Christof Landesberger, Sabine Scherbaum, Karlheinz Bock

Erschienen in: Ultra-thin Chip Technology and Applications

Verlag: Springer New York

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Abstract

The technological concept ‘dicing-by-thinning’ (DbyT) offers a new technique for die separation for ultra-thin wafers. Conventional sawing is replaced by preparation of frontside trenches and subsequent backside thinning. It will be shown that introducing plasma etched trenches allows for both preparation of ultra-thin dies of high fracture strength and for a significant increase in number of chips per wafer. It is concluded that dicing-by-thinning offers a new strategy for cost effective manufacture of very small and ultra-thin radio frequency identification (RFID) devices. Finally, a short outlook on the development of self-assembly processes for ultra-thin microelectronic components will be given.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat Landesberger C, Klink G, Schwinn G, Aschenbrenner R (2001) New dicing and thinning concept improves mechanical reliability of ultra thin silicon. In: International symposium and exhibition on advanced packaging materials, Braselton, 92–97 March 2001 Landesberger C, Klink G, Schwinn G, Aschenbrenner R (2001) New dicing and thinning concept improves mechanical reliability of ultra thin silicon. In: International symposium and exhibition on advanced packaging materials, Braselton, 92–97 March 2001
2.
Zurück zum Zitat Landesberger C, Feil M, Klumpp A. Method of subdividing a wafer. US Patent 6,756,288 B1, European patent EP 1 192 657 B1 Landesberger C, Feil M, Klumpp A. Method of subdividing a wafer. US Patent 6,756,288 B1, European patent EP 1 192 657 B1
3.
Zurück zum Zitat Landesberger C, Köthe O, Bleier M. Verfahren zum Bearbeiten eines Wafers. German Patent, DE 102 29 499 B4 Landesberger C, Köthe O, Bleier M. Verfahren zum Bearbeiten eines Wafers. German Patent, DE 102 29 499 B4
4.
Zurück zum Zitat Schönfelder S, Ebert M, Landesberger C, Bock K, Bagdahn J (2007) Investigations of the influence of dicing techniques on the strength properties of thin silicon. Microelectron Reliab 47:168–178CrossRef Schönfelder S, Ebert M, Landesberger C, Bock K, Bagdahn J (2007) Investigations of the influence of dicing techniques on the strength properties of thin silicon. Microelectron Reliab 47:168–178CrossRef
5.
Zurück zum Zitat Heinze P, Amberger M, Chabert T (2008) Perfect chips: chip-side-wall stress relief boosts stability. Future Fab Int 25:111–117 Heinze P, Amberger M, Chabert T (2008) Perfect chips: chip-side-wall stress relief boosts stability. Future Fab Int 25:111–117
6.
Zurück zum Zitat Takyu S, Sagara J, Kurosawa T (2008) A study on chip thinning for ultra thin memory devices. In: Electronics components and technology conference (ECTC), Lake Buena Vista, 1511–1516. Takyu S, Sagara J, Kurosawa T (2008) A study on chip thinning for ultra thin memory devices. In: Electronics components and technology conference (ECTC), Lake Buena Vista, 1511–1516.
7.
Zurück zum Zitat Usami M (2004) An ultra-small RFID chip: μ-chip. In: 2004 IEEE Asia-Pacific conference on advanced system integrated circuits (AP-ASIC2004), 4–5 Aug 2004 Usami M (2004) An ultra-small RFID chip: μ-chip. In: 2004 IEEE Asia-Pacific conference on advanced system integrated circuits (AP-ASIC2004), 4–5 Aug 2004
8.
Zurück zum Zitat Feil M, Adler C, Hemmetzberger D, Bock K (2004) The challenge of ultra-thin chip assembly. In: Electronics components and technology conference (ECTC), Las Vegas, NV, USA Feil M, Adler C, Hemmetzberger D, Bock K (2004) The challenge of ultra-thin chip assembly. In: Electronics components and technology conference (ECTC), Las Vegas, NV, USA
9.
Zurück zum Zitat Smith JS. Fluidic self-assembly of active antenna. US Patent 6,611,237 B2 Smith JS. Fluidic self-assembly of active antenna. US Patent 6,611,237 B2
10.
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11.
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12.
Zurück zum Zitat Landesberger C, Hell W, Yacoub-George E, Scherbaum S, König M, Feil M, Bock K (June 2009) Assembly of thin and flexible silicon devices on large area foil substrates. In: International conference and exhibition for the organic and printed electronics industry, Frankfurt Landesberger C, Hell W, Yacoub-George E, Scherbaum S, König M, Feil M, Bock K (June 2009) Assembly of thin and flexible silicon devices on large area foil substrates. In: International conference and exhibition for the organic and printed electronics industry, Frankfurt
13.
Zurück zum Zitat Landesberger C (ed) (2010) Entwicklung eines Selbstmontage-Verfahrens (self-assembly) für die Systemintegration von sehr kleinen Silizium-Bausteinen. Abschlussbericht des BMBF Verbundvorhabens Assemble!, Fortschritt-Berichte VDI. 9(386) Landesberger C (ed) (2010) Entwicklung eines Selbstmontage-Verfahrens (self-assembly) für die Systemintegration von sehr kleinen Silizium-Bausteinen. Abschlussbericht des BMBF Verbundvorhabens Assemble!, Fortschritt-Berichte VDI. 9(386)
Metadaten
Titel
Ultra-thin Wafer Fabrication Through Dicing-by-Thinning
verfasst von
Christof Landesberger
Sabine Scherbaum
Karlheinz Bock
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer New York
DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7276-7_4

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