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e+i Elektrotechnik und Informationstechnik
Erschienen in: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik 1/2016

01.02.2016 | Originalarbeiten

Von der Blitzentladung bis zu ESD-Testverfahren

Beanspruchungen von Geräten und integrierten Schaltungen sowie normative Anforderungen

verfasst von: Bernd Deutschmann, Stephan Pack, Gunter Winkler

Erschienen in: e+i Elektrotechnik und Informationstechnik | Ausgabe 1/2016

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Zusammenfassung

Elektrische und elektronische Systeme sowie informationstechnische Infrastrukturen sind den Ein- und Auswirkungen atmosphärischer Entladungen ausgesetzt. In diesem Beitrag sollen die Zusammenhänge zwischen atmosphärischen Entladungen in Verbindung mit elektrischen Systemen, elektronischen Geräten und integrierten Schaltungen aufgezeigt werden. Dabei wird auf die Prüfverfahren und Normen zur Sicherstellung der elektromagnetischen Verträglichkeit gegenüber transienten Störgrößen eingegangen.
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Fußnoten
1
Anmerkung: Die von Blitzortungssystemen herangezogene, indirekte Methode zur Bestimmung des Blitzstromscheitelwerts ist nur für negative Folgeblitze bestätigt und gültig. Scheitelwerte von negativen Erstblitzen sowie von positiven Erst- und Folgeblitzen können als grobe Schätzung angesehen werden.
 
2
Anmerkung: Diese 50-%-Aufteilung stellt eine in der Fachwelt angenommene grobe Aufteilung dar, die tatsächliche Aufteilung muss im Einzelfall beurteilt werden.
 
Literatur
1.
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Landers, U., Zahlmann, P. (1994): EMV – Blitzschutz von elektrischen und elektronischen Systemen in baulichen Anlagen. Berlin: VDE Verlag GmbH.
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ÖVE/ÖNORM EN 62305-3:2012-07-01 (2012): Blitzschutz – Teil 3: Schutz von baulichen Anlagen und Personen.
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Metadaten
Titel
Von der Blitzentladung bis zu ESD-Testverfahren
Beanspruchungen von Geräten und integrierten Schaltungen sowie normative Anforderungen
verfasst von
Bernd Deutschmann
Stephan Pack
Gunter Winkler
Publikationsdatum
01.02.2016
Verlag
Springer Vienna
Erschienen in
e+i Elektrotechnik und Informationstechnik / Ausgabe 1/2016
Print ISSN: 0932-383X
Elektronische ISSN: 1613-7620
DOI
https://doi.org/10.1007/s00502-015-0379-1

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