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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

9. Which is Better Problems in Checkpoint Models

verfasst von : Satoshi Mizutani, Xufeng Zhao, Toshio Nakagawa

Erschienen in: Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

It is of great importance to develop the design of computer systems  with high reliability as human technologies have been rapidly growing up. Most systems consist of computing units which need high reliability and speed processes. Therefore, we have to design previously such computer systems with high quality. However, we cannot eliminate some computer errors in actual fields, and to mask these errors, we have to make a better planning for high reliable computer systems with multiple units and tolerant performances.

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Literatur
1.
2.
Abd-El-Bar M (2007) Reliable and fault-tolerant. Imperial Colledge Press, LondonMATH
3.
Nakagawa S, Funkumoto S, Ishii N (2003) Optimal checking pointing intervals of three error detection schemes by a double modular redundancy. Math Comput Model 38:1357–1363CrossRefMATH
4.
Naruse K, Nakagawa T (2020) Optimal checking intervals, schemes and structures for computing modules. In: Pham H (ed) Reliability and statistical computing. Springer, London, pp 265–287CrossRef
5.
Naruse K, Nakagawa T (2022) Optimal design of checkpoint systems with general structures, tasks and scheme. In: Ram H, Pham H (eds) Reliability and maintainability assesment of industrial systems. Springer, London, pp 73–91CrossRef
6.
Naruse K, Nakagawa T (2022) Optimal scheme models with imperfect checkpoint, 27th ISSAT International Conference on Reliability and Quality in Design, pp 96–100
7.
Nakagawa T (2008) Advanced reliability models and maintenance policies. Springer, London
Metadaten
Titel
Which is Better Problems in Checkpoint Models
verfasst von
Satoshi Mizutani
Xufeng Zhao
Toshio Nakagawa
Copyright-Jahr
2023
Buch
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory

Print ISBN: 978-3-031-27315-5

Electronic ISBN: 978-3-031-27316-2

Copyright-Jahr: 2023

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-031-27316-2_9

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