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Erschienen in:
2013 | OriginalPaper | Buchkapitel
Wir schalten um auf Elektronenbeugung
verfasst von : Jürgen Thomas, Thomas Gemming
Erschienen in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
Verlag: Springer Vienna
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Ziel: Ein großer Vorteil des Transmissionselektronenmikroskops ist es, dass auf einfache Weise zwischen der Abbildung von sehr kleinen Strukturen in einer dünnen Probe und dem Beugungsmuster von den gleichen Strukturen umgeschaltet werden kann. Wir wollen deshalb erklären, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops geändert werden muss, damit wir die Beugungsmuster auch sehen können. Schließlich wollen wir erläutern, welche materialwissenschaftlichen Erkenntnisse aus den Beugungsmustern erhalten werden können. Dazu ist es notwendig, einige Grundkenntnisse über den Aufbau der Kristalle zu vermitteln.