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Erschienen in:

2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

133. X-Ray Reflectivity

verfasst von : Wolfgang Voegeli

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

X-ray reflectivity (XRR) is widely used for observing the structure of surfaces, thin films, and multilayers on the scale of nanometers.

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Daillant, J., Gibaud, A.: X-ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications. Springer, Berlin (1999)

Pietsch, U., Holý, V., Baumbach, T.: High-Resolution X-Ray Scattering: from Thin Films to Lateral Nanostructures, 2nd edn. Springer, New York (2004)CrossRef

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Titel: X-Ray Reflectivity
verfasst von: Wolfgang Voegeli
Verlag: Springer Singapore
Buch: Compendium of Surface and Interface Analysis
Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018
DOI: https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_133

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