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Erschienen in:
2017 | OriginalPaper | Buchkapitel
XRD - Röntgenvielkristalldiffraktometrie
verfasst von : Jürgen Bauch, Rüdiger Rosenkranz
Erschienen in: Physikalische Werkstoffdiagnostik
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
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Die 1912 von M. v. LAUE (Nobelpreis 1914), W. FRIEDRICH und P. KNIPPING entdeckte Röntgen-beugung an Kristallen wird in einem Diffraktometer technisch umgesetzt. Dabei wird ein mittels Blenden geformter, monochromatischer Röntgenstrahl auf das Untersuchungsgebiet der Probe gerichtet. Die gemäß der Bragg‘schen Gleichung an den interferenzfähigen Netzebenen der Kristallite gebeugte Strahlung wird vom Detektor registriert. Werden bei bekannter Wellenlänge die Beugungswinkel gemessen, bei denen die Reflexe auftreten, so können die entsprechenden Netzebenenabstände errechnet werden und zur Phasenbestimmung herangezogen werden.