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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

8. Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen

verfasst von : Titu-Marius I. Băjenescu

Erschienen in: Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden

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Zusammenfassung

Die wesentlichen Vorteile der monolithischen Integration gegenüber Schaltungen mit diskreten Komponenten sind: i) drastische Reduktion der Kosten, ii) drastische Reduktion des Platzbedarfs, iii) höhere Zuverlässigkeit, iv) verbesserte elektrische Eigenschaften. Der Abschn. (8.3) befasst sich mit den grundsätzlichen Fehlermechanismen, die integrierte Schaltungen betreffen. Im Fokus stehen dabei Verschleißerscheinungen, insbesondere die Transistoren betreffend, da die verkleinerten Strukturgrößen anfälliger für Verschleiß sind und so zu einer verringerten Lebensdauer führen. Der Abschn. 8.5 befasst sich mit der Zuverlässigkeitsabschätzung integrierter Schaltungen. Die wirksamsten Zuverlässigkeitstests für monolithische ICs sind in Abschn. 8.6 angegeben. Nach der Definition ist ein beschleunigter Test eine Prüfung, bei der die Beanspruchungen höher sind als jene, die im Betrieb herrschen. Alle diese Tests haben das Ziel, die notwendige Beobachtungszeit der den Beanspruchungen unterworfenen ICs zu verkürzen oder dieses Verfahren während einer gegebenen Beobachtungszeit zu beschleunigen. Frühausfälle bringen für den Anwender oft Überraschungen, manchmal sehr unangenehme und beunruhigende. Obwohl kein Ausfallmechanismus vorherrscht, steht ein wichtiger Teil der Ausfälle in direkter Verbindung mit der Verunreinigung des Chips und mit der Korrosion der Metallisierung, die zu Kurzschlüssen oder offenen Schaltungen führen können.

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Metadaten
Titel
Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen
verfasst von
Titu-Marius I. Băjenescu
Copyright-Jahr
2020
Buch
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Print ISBN: 978-3-658-22177-5

Electronic ISBN: 978-3-658-22178-2

Copyright-Jahr: 2020

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2_8

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