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Erschienen in: ATZelektronik 7-8/2022

01.07.2022 | Entwicklung

Zuverlässigkeit von SiC-Leistungshalbleitern in Hochvoltsystemen

verfasst von: Tobias Keller, Dr. Daniel Schneider

Erschienen in: ATZelektronik | Ausgabe 7-8/2022

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Auszug

Mit der Erhöhung der Batteriespannung von 400 auf 800 V ergeben sich einige Vorteile in der Anwendung von Elektrofahrzeugen, vor allem schnellere Ladezeiten, höhere Effizienz und größere Reichweiten. Bei den Leistungshalbleitern in den Invertern führt die höhere Spannung zu geringeren Strömen bei gleicher Leistung, gleichzeitig aber auch zu Herausforderungen in Bezug auf die Zuverlässigkeit. Im Folgenden führt Hitachi Energy aus, wie sich insbesondere die kosmische Strahlung darauf auswirkt. …
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Metadaten
Titel
Zuverlässigkeit von SiC-Leistungshalbleitern in Hochvoltsystemen
verfasst von
Tobias Keller
Dr. Daniel Schneider
Publikationsdatum
01.07.2022
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden
Erschienen in
ATZelektronik / Ausgabe 7-8/2022
Print ISSN: 1862-1791
Elektronische ISSN: 2192-8878
DOI
https://doi.org/10.1007/s35658-022-0785-1

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