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JOT Journal für Oberflächentechnik
Erschienen in: JOT Journal für Oberflächentechnik 14/2015

01.03.2015 | Messen & Prüfen

Komplizierte Mehrschichtsysteme analysieren

Schichtdickenbestimmung mittels Röntgenfluoreszenzanalyse

verfasst von: Helmut Fischer GmbH

Erschienen in: JOT Journal für Oberflächentechnik | Sonderheft 14/2015

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Auszug

An Steckkontakten muss für jede einzelne Schicht eine Mindestschichtdicke nachgewiesen werden, da es ansonsten zu einem Ausfall des Bauteils kommen kann. Für die schnelle und zerstörungsfreie Überwachung der Mehrschichtsysteme wird die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) eingesetzt. Dabei können mit einem Gerät komplizierte Mehrschichtsysteme analysiert werden. …
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Metadaten
Titel
Komplizierte Mehrschichtsysteme analysieren
Schichtdickenbestimmung mittels Röntgenfluoreszenzanalyse
verfasst von
Helmut Fischer GmbH
Publikationsdatum
01.03.2015
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden
Erschienen in
JOT Journal für Oberflächentechnik / Ausgabe Sonderheft 14/2015
Print ISSN: 0940-8789
Elektronische ISSN: 2192-869X
DOI
https://doi.org/10.1007/s35144-015-0578-x

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