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Erschienen in: Microsystem Technologies 7-8/2012

01.08.2012 | Technical Paper

CMOS: compatible wafer bonding for MEMS and wafer-level 3D integration

verfasst von: Viorel Dragoi, Eric Pabo, Jürgen Burggraf, Gerald Mittendorfer

Erschienen in: Microsystem Technologies | Ausgabe 7-8/2012

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Abstract

Wafer bonding became during past decade an important technology for MEMS manufacturing and wafer-level 3D integration applications. The increased complexity of the MEMS devices brings new challenges to the processing techniques. In MEMS manufacturing wafer bonding can be used for integration of the electronic components (e.g. CMOS circuitries) with the mechanical (e.g. resonators) or optical components (e.g. waveguides, mirrors) in a single, wafer-level process step. However, wafer bonding with CMOS wafers brings additional challenges due to very strict requirements in terms of process temperature and contamination. These challenges were identified and wafer bonding process solutions will be presented illustrated with examples.

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Literatur
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Metadaten
Titel
CMOS: compatible wafer bonding for MEMS and wafer-level 3D integration
verfasst von
Viorel Dragoi
Eric Pabo
Jürgen Burggraf
Gerald Mittendorfer
Publikationsdatum
01.08.2012
Verlag
Springer-Verlag
Erschienen in
Microsystem Technologies / Ausgabe 7-8/2012
Print ISSN: 0946-7076
Elektronische ISSN: 1432-1858
DOI
https://doi.org/10.1007/s00542-012-1439-7

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