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The International Journal of Advanced Manufacturing Technology

Published in:

15-08-2017 | ORIGINAL ARTICLE

A fast and robust convolutional neural network-based defect detection model in product quality control

Authors: Tian Wang, Yang Chen, Meina Qiao, Hichem Snoussi

Published in: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology | Issue 9-12/2018

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Title: A fast and robust convolutional neural network-based defect detection model in product quality control
Authors: Tian Wang
Yang Chen
Meina Qiao
Hichem Snoussi
Publication date: 15-08-2017
Publisher: Springer London
Published in: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology / Issue 9-12/2018
Print ISSN: 0268-3768
Electronic ISSN: 1433-3015
DOI: https://doi.org/10.1007/s00170-017-0882-0

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