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2023 | OriginalPaper | Chapter

5. Wir schalten um auf Elektronenbeugung

Authors : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Published in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Publisher: Springer Berlin Heidelberg

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Ziel

Ein großer Vorteil des Transmissionselektronenmikroskops ist es, dass auf einfache Weise zwischen Abbildung und Beugung sehr kleiner Strukturen in einer dünnen Probe umgeschaltet werden kann. Dadurch wird die Zuordnung von morphologischen und kristallografischen Materialeigenschaften möglich. Wir wollen erklären, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops geändert werden muss, damit dieses Umschalten zwischen Abbildung und Beugung funktioniert. Schließlich wollen wir erläutern, welche materialwissenschaftlichen Erkenntnisse aus den Beugungsmustern erhalten werden können. Dazu ist es notwendig, einige kristallografische Grundkenntnisse zu vermitteln.

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Wilhelm Conrad Röntgen, deutscher Physiker, 1845–1923, Nobelpreis für Physik 1901 (erster Physik-Nobelpreis).

Arnold Sommerfeld, deutscher Physiker, 1868–1951.

Max von Laue, deutscher Physiker, 1879–1960, Nobelpreis für Physik 1914.

Walter Friedrich, deutscher Biophysiker, 1883–1968.

Paul Knipping, deutscher Physiker, 1883–1935.

Clint Davisson, amerikanischer Physiker, 1881–1958.

Lester H. Germer, amerikanischer Physiker, 1896–1971.

William Henry Bragg und William Lawrence Bragg: australisch/englische Physiker (Vater und Sohn), 1862 – 1942 bzw. 1890 – 1971, Nobelpreis für Physik 1915.

Frederic Pearson Treadwell, amerikanisch-schweizer Chemiker, 1857–1918.

Ralph Walter Graystone Wyckoff, amerikanischer Kristallograph, 1897–1994.

William Hallowes Miller, britischer Kristallograph, 1801–1880.

Hans Boersch, deutscher Physiker, 1909–1986.

Seishi Kikuchi, japanischer Physiker, 1902–1974, entdeckte und erklärte 1928 die beschriebenen Bänder.

Leonhard Euler, schweizer Mathematiker, 1707–1783.

Paul Peter Ewald, deutscher Physiker, 1888–1985.

Erwin Schrödinger, österreichischer Physiker, 1887–1961, Nobelpreis für Physik 1933.

Ewald, P.P.: Die Entdeckung der Röntgeninterferenzen vor zwanzig Jahren und zu Sir William Braggs siebzigstem Geburtstag. Naturwissenschaften 29, 527–530 (1932)ADSCrossRef

Friedrich, W.: Erinnerungen an die Entdeckung der Interferenzerscheinungen bei Röntgenstrahlen. Naturwissenschaften 36, 354–356 (1949)ADSCrossRef

Schulze, G.E.R.: M. v. Laue und die Geschichte der Röntgenfeinstrukturuntersuchung. Krist. Techn. 8, 527–543 (1973)

Davisson, C., Germer, L.H.: The scattering of electrons by a single crystal of nickel. Nature 119, 558–560 (1927)ADSCrossRef

Bragg, W.L.: The specular reflection of X-rays. Nature 90, 410 (1912)ADSCrossRef

Bragg, W.H., Bragg, W.L.: The reflections of X-rays by crystals. Proc. Royal Soc. London 88, 428–438 (1913)ADS

Hahn, T. (Hrsg.): International Tables for Crystallography, vol. A, Space-Group Symmetry. Kluwer, Dordrecht (1996)

Villars, P., Calvert, L.D.: Pearson’s Handbook of Cryst. Data for Intermetallic Phases, ASM Intern (1991)

http://icsd.fiz-karlsruhe.de/icsd/

10.

Otte, H.M., Crocker, A.G.: Crystallographic formulae for hexagonal lattices. Phys. Stat. Sol. 9, 441–450 (1965)

11.

Nicholas, J.: The simplicity of miller-bravais indexing. Acta Crystallogr. 21, 880–881 (1966)CrossRef

12.

Boersch, H.: Über das primäre und sekundäre Bild im Elektronenmikroskop, Ann. d. Phys. 26, 631–644 (1936) und 27, 75–80 (1936)

13.

Kikuchi, S.: Japan. J. Phys. 5 (1928), 83 und Phys. Z. 31 (1930), 777, zitiert in: Möllenstedt, G.: My early work on convergent-beam electron diffraction. Phys. Stat. Sol. (a) 116, 13–22 (1989)

14.

\([5.14]\) Doyle, P.A., Turner, P.S.: Relativistic Hartree-Fock X-ray and electron scattering factors. Acta Crystallogr. A 24, 390–397 (1968)

15.

Thomas, J., Gemming, T.: ELDISCA C# – a new version of the program for identifying electron diffraction patterns. In: Luysberg, M., Tillmann, K., Weirich, T. (Hrsg.) EMC 2008, Aachen, Bd. 1, S. 231–232. Springer, Berlin (2008)

16.

Williams, D.B., Carter, C.B.: Transmission Electron Microscopy, S. 299 ff. Springer, New York (2009)

17.

von Laue, M.: Materiewellen und ihre Interferenzen. Akad. Verl.-Ges. Geest & Portig, Leipzig (1948)

18.

Vincent, R., Midgley, P.A.: Double conical beam-rocking system for measurement of integrated electron diffraction intensities. Ultramicroscopy 53, 271–282 (1994)CrossRef

19.

Deininger, C., Mayer, J., Rühle, M.: Determination of the charge-density distribution of crystals by energy-filtered CBED. Optik 99, 135–140 (1995)

Title: Wir schalten um auf Elektronenbeugung
Authors: Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Publisher: Springer Berlin Heidelberg
Book: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
Print ISBN: 978-3-662-66722-4

Electronic ISBN: 978-3-662-66723-1

Copyright Year: 2023
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_5