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2017 | OriginalPaper | Chapter
AFM - Rasterkraftmikroskopie
Authors : Jürgen Bauch, Rüdiger Rosenkranz
Published in: Physikalische Werkstoffdiagnostik
Publisher: Springer Berlin Heidelberg
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Im Rasterkraftmikroskop wird eine sehr feine Messspitze wird mit hoher Genauigkeit im Bereich der Nahfeldwechselwirkung über eine Oberfläche bewegt. Die Oberflächenstruktur der Probe lenkt dabei den Biegebalken mit der Spitze positionsabhängig aus, was typischerweise mit optischen Sensoren gemessen wird und ein Maß für die zwischen Spitze und Oberfläche wirkenden atomaren Kräfte darstellt. Das punktweise quantitative Aufzeichnen dieser Kräfte über ein bestimmtes Probengebiet wird zur Bilddarstellung verwendet.