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2018 | OriginalPaper | Chapter

8. Cathodoluminescence

Author : Takashi Sekiguchi

Published in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Publisher: Springer Singapore

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Abstract

Cathodoluminescence is a light emission according to an electron beam injection.

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Literature
1.
go back to reference Dierre, B., Yuan, X.L., Sekiguchi, T.: Low-energy cathodoluminescence microscopy for the characterization of nanostructures. Sci. Tech. Adv. Mat. 11, 043001 (2010)CrossRef Dierre, B., Yuan, X.L., Sekiguchi, T.: Low-energy cathodoluminescence microscopy for the characterization of nanostructures. Sci. Tech. Adv. Mat. 11, 043001 (2010)CrossRef
2.
go back to reference Sekiguchi, T., Sumino, K.: Quantitative Electron Beam Tester for defects in semiconductors (CL/EBIC/SDLTS). Rev. Sci. Instrum. 66, 4277–4282 (1995)CrossRef Sekiguchi, T., Sumino, K.: Quantitative Electron Beam Tester for defects in semiconductors (CL/EBIC/SDLTS). Rev. Sci. Instrum. 66, 4277–4282 (1995)CrossRef
3.
go back to reference Yuan, X.L., Dierre, B., Wang, J.B., Sekiguchi, T.: Spatial distribution of impurities in ZnO nanotubes characterized by cathodoluminescence. J. Nanosci. Nanotech. 7, 3323–3327 (2007)CrossRef Yuan, X.L., Dierre, B., Wang, J.B., Sekiguchi, T.: Spatial distribution of impurities in ZnO nanotubes characterized by cathodoluminescence. J. Nanosci. Nanotech. 7, 3323–3327 (2007)CrossRef
Metadata
Title
Cathodoluminescence
Author
Takashi Sekiguchi
Copyright Year
2018
Publisher
Springer Singapore
DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_8

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