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2012 | OriginalPaper | Chapter

Damage Quantification Using EMI Technique

Authors : S. Bhalla, Y. W. Yang, J. F. Xu, C. K. Soh

Published in: Smart Materials in Structural Health Monitoring, Control and Biomechanics

Publisher: Springer Berlin Heidelberg

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This section outlines a computational procedure to extract the mechanical impedance of the host structure from the EM admittance signatures of the surface-bonded PZT patches.

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Metadata
Title
Damage Quantification Using EMI Technique
Authors
S. Bhalla
Y. W. Yang
J. F. Xu
C. K. Soh
Copyright Year
2012
Publisher
Springer Berlin Heidelberg
Book
Smart Materials in Structural Health Monitoring, Control and Biomechanics

Print ISBN: 978-3-642-24462-9

Electronic ISBN: 978-3-642-24463-6

Copyright Year: 2012

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-24463-6_4

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