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Published in: ATZelectronics worldwide 5/2009

01-09-2009 | Software

Model-driven test case generation in HiL testing

Usage models and model—centric testing

Authors: Gerhard Kiffe, Sebastian Siegl, Florian Prester, Dr. Martin Beisser, Martin Seel

Published in: ATZelectronics worldwide | Issue 5/2009

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Metadata
Title
Model-driven test case generation in HiL testing
Usage models and model—centric testing
Authors
Gerhard Kiffe
Sebastian Siegl
Florian Prester
Dr. Martin Beisser
Martin Seel
Publication date
01-09-2009
Publisher
Springer Automotive Media
Published in
ATZelectronics worldwide / Issue 5/2009
Electronic ISSN: 2524-8804
DOI
https://doi.org/10.1007/BF03242239

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