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2015 | OriginalPaper | Chapter

18. Noise in Atomic Force Microscopy

Author : Bert Voigtländer

Published in: Scanning Probe Microscopy

Publisher: Springer Berlin Heidelberg

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Abstract

In topographic images, the noise in the vertical position of the tip (i.e. the noise in the tip-sample distance) should be considerably smaller than the topography signal on the sample which we want to measure.

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Footnotes
1
We do not indicate explicitly that the carrier frequency is the shifted resonance frequency \(f'_0\).
 
Metadata
Title
Noise in Atomic Force Microscopy
Author
Bert Voigtländer
Copyright Year
2015
Publisher
Springer Berlin Heidelberg
Book
Scanning Probe Microscopy

Print ISBN: 978-3-662-45239-4

Electronic ISBN: 978-3-662-45240-0

Copyright Year: 2015

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0_18

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