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Published in:

17-01-2019 | Research Article

Trap and 1/f-noise effects at the surface and core of GaN nanowire gate-all-around FET structure

Authors: Mallem Siva Pratap Reddy, Ki-Sik Im, Jung-Hee Lee, Raphael Caulmione, Sorin Cristoloveanu

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Title: Trap and 1/f-noise effects at the surface and core of GaN nanowire gate-all-around FET structure
Authors: Mallem Siva Pratap Reddy
Ki-Sik Im
Jung-Hee Lee
Raphael Caulmione
Sorin Cristoloveanu
Publication date: 17-01-2019
Publisher: Tsinghua University Press
Published in: Nano Research / Issue 4/2019
Print ISSN: 1998-0124
Electronic ISSN: 1998-0000
DOI: https://doi.org/10.1007/s12274-019-2292-0

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