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2023 | OriginalPaper | Chapter

3. Wir präparieren elektronentransparente Proben

Authors : Jürgen Thomas, Thomas Gemming

Published in: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Publisher: Springer Berlin Heidelberg

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Ziel

Transmissionselektronenmikroskopie wird in der Regel gleichgesetzt mit moderner Gerätetechnik, Elektronenoptik auf dem neuesten Stand, Interpretation neuartiger Ergebnisse; auch über Sinn und Zweck des Ganzen wird diskutiert. Bei Neueinrichtung eines elektronenmikroskopischen Labors ist aber unbedingt zu beachten, dass für die Transmissionselektronenmikroskopie geeignete dünne Proben benötigt werden und die Präparation solcher Proben alles andere als einfach und selbstverständlich ist. Dieses Kapitel gibt einen Überblick über geeignete Präparationsmethoden.

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Footnotes
1
Charles Augustin de Coulomb, französischer Physiker, 1736–1806.
 
2
Supraleiter leiten den elektrischen Strom unterhalb einer Sprungtemperatur ohne elektrischen Widerstand. Bei klassischen Supraleitern (Metallen) liegt diese Temperatur bei wenigen K. Bei Hochtemperatur-Supraleitern liegt sie deutlich höher, z. B. oberhalb von \(77~\textrm{K} = -196\,^{\circ }\)C (Temperatur von flüssigem Stickstoff).
 
3
Helmut Ruska, deutscher Mediziner, 1908–1973, Bruder von Ernst Ruska.
 
Literature
1.
go back to reference Lang, G.: Histotechnik – Praxislehrbuch für die biomedizinische Analytik. Springer, Wien (2006) Lang, G.: Histotechnik – Praxislehrbuch für die biomedizinische Analytik. Springer, Wien (2006)
2.
go back to reference Allen, T.D. (Hrsg.): Introduction to Electron Microscopy for Biologists. Academic Press, Elsevier Inc. (2008) Allen, T.D. (Hrsg.): Introduction to Electron Microscopy for Biologists. Academic Press, Elsevier Inc. (2008)
4.
go back to reference Bethge, H.: Oberflächenstrukturen und Kristallbaufehler im elektronenmikroskopischen Bild, untersucht am NaCl. Phys. Status Solidi (b) 2, 3–27 und 775–820 (1962) Bethge, H.: Oberflächenstrukturen und Kristallbaufehler im elektronenmikroskopischen Bild, untersucht am NaCl. Phys. Status Solidi (b) 2, 3–27 und 775–820 (1962)
5.
go back to reference Galetzka, W., Gnägi, H., Godehardt, R., Lebek, W., Michler, G.H., Vastenhout, B.: Ultramikrotomie in der Materialforschung. Hanser, München (2004) Galetzka, W., Gnägi, H., Godehardt, R., Lebek, W., Michler, G.H., Vastenhout, B.: Ultramikrotomie in der Materialforschung. Hanser, München (2004)
6.
go back to reference McCaffrey, J.P.: Small-angle cleavage of semiconductors for transmission electron microscopy. Ultramicroscopy 38, 149–157 (1991) McCaffrey, J.P.: Small-angle cleavage of semiconductors for transmission electron microscopy. Ultramicroscopy 38, 149–157 (1991)
7.
go back to reference Benedict, J., Anderson, R., Klepeis, S.J.: Recent developments in the use of the tripod polisher for TEM specimen preparation. Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials-III. MRS Sympos. Proc. 254, 121–140 (1992). https://doi.org/10.1557/PROC-254-121 Benedict, J., Anderson, R., Klepeis, S.J.: Recent developments in the use of the tripod polisher for TEM specimen preparation. Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials-III. MRS Sympos. Proc. 254, 121–140 (1992). https://​doi.​org/​10.​1557/​PROC-254-121
8.
go back to reference Kirchner, A., Thomas, J., Gutfleisch, O., Hinz, D., Müller, K.-H., Schultz, L.: HRTEM studies of grain boundaries in die-upset Nd-Fe-Co-Ga-B magnets. J. Alloys Compd. 365, 286–290 (2004) Kirchner, A., Thomas, J., Gutfleisch, O., Hinz, D., Müller, K.-H., Schultz, L.: HRTEM studies of grain boundaries in die-upset Nd-Fe-Co-Ga-B magnets. J. Alloys Compd. 365, 286–290 (2004)
Metadata
Title
Wir präparieren elektronentransparente Proben
Authors
Jürgen Thomas
Thomas Gemming
Copyright Year
2023
Publisher
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-66723-1_3