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Published in: Journal of Electronic Materials 4/2014

01-04-2014

A Comparison of the Microwave Photoconductivity Decay and Open-Circuit Voltage Decay Lifetime Measurement Techniques for Lifetime-Enhanced 4H-SiC Epilayers

Authors: Edward Van Brunt, Anant Agarwal, Al Burk, Lin Cheng, Michael O’Loughlin, John Palmour, Alexander Suvorov

Published in: Journal of Electronic Materials | Issue 4/2014

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Metadata
Title
A Comparison of the Microwave Photoconductivity Decay and Open-Circuit Voltage Decay Lifetime Measurement Techniques for Lifetime-Enhanced 4H-SiC Epilayers
Authors
Edward Van Brunt
Anant Agarwal
Al Burk
Lin Cheng
Michael O’Loughlin
John Palmour
Alexander Suvorov
Publication date
01-04-2014
Publisher
Springer US
Published in
Journal of Electronic Materials / Issue 4/2014
Print ISSN: 0361-5235
Electronic ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-013-2836-0

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