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Journal of Electronic Testing

Published in:

01-02-2004

A Graph-Based Approach to Power-Constrained SOC Test Scheduling

Authors: Chih-Pin Su, Cheng-Wen Wu

Published in: Journal of Electronic Testing | Issue 1/2004

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Title: A Graph-Based Approach to Power-Constrained SOC Test Scheduling
Authors: Chih-Pin Su
Cheng-Wen Wu
Publication date: 01-02-2004
Publisher: Kluwer Academic Publishers
Published in: Journal of Electronic Testing / Issue 1/2004
Print ISSN: 0923-8174
Electronic ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1023/B:JETT.0000009313.23362.fd

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