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Published in:

01-10-2011

Extending the notion of quality from physical metrology to information and sustainability

Authors: Gaurav Ameta, Sudarsan Rachuri, Xenia Fiorentini, Mahesh Mani, Steven J. Fenves, Kevin W. Lyons, Ram D. Sriram

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Title: Extending the notion of quality from physical metrology to information and sustainability
Authors: Gaurav Ameta
Sudarsan Rachuri
Xenia Fiorentini
Mahesh Mani
Steven J. Fenves
Kevin W. Lyons
Ram D. Sriram
Publication date: 01-10-2011
Publisher: Springer US
Published in: Journal of Intelligent Manufacturing / Issue 5/2011
Print ISSN: 0956-5515
Electronic ISSN: 1572-8145
DOI: https://doi.org/10.1007/s10845-009-0333-3

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