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Published in: Journal of Electronic Materials 1/2019

30-10-2018

Microstructural Characterization of Defects and Chemical Etching for HgCdSe/ZnTe/Si (211) Heterostructures

Authors: M. Vaghayenegar, K. J. Doyle, S. Trivedi, P. Wijewarnasuriya, David J. Smith

Published in: Journal of Electronic Materials | Issue 1/2019

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Metadata
Title
Microstructural Characterization of Defects and Chemical Etching for HgCdSe/ZnTe/Si (211) Heterostructures
Authors
M. Vaghayenegar
K. J. Doyle
S. Trivedi
P. Wijewarnasuriya
David J. Smith
Publication date
30-10-2018
Publisher
Springer US
Published in
Journal of Electronic Materials / Issue 1/2019
Print ISSN: 0361-5235
Electronic ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-018-6737-0

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