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2007 | OriginalPaper | Chapter

Modeling Study of Ultra-Thin Ge Layers Using Tight-Binding, LCBB and kp Methods

Authors : D. Rideau, E. Batail, S. Monfray, C. Tavernier, H. Jaouen

Published in: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007

Publisher: Springer Vienna

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The confined states in ultra-thin Ge layers on oxide are investigated using three different state-of-the-art full-band methods. Contrary to the prediction of the simple effective mass approximation (EMA) and multiband-models that decoupled the Conduction Bands (CB) and the Valence Bands (VB), full-band calculations predicts much lower subband energy shifts due to quantum confinement.

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Metadata
Title
Modeling Study of Ultra-Thin Ge Layers Using Tight-Binding, LCBB and kp Methods
Authors
D. Rideau
E. Batail
S. Monfray
C. Tavernier
H. Jaouen
Copyright Year
2007
Publisher
Springer Vienna
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-211-72861-1_35