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2017 | OriginalPaper | Chapter
SNOM - Optische Rasternahfeldmikroskopie
Authors : Jürgen Bauch, Rüdiger Rosenkranz
Published in: Physikalische Werkstoffdiagnostik
Publisher: Springer Berlin Heidelberg
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Bei der optischen Rasternahfeldmikroskopie gelingt es, das in der Lichtmikroskopie geltende Abbe-Auflösungslimit durch eine spezielle Messanordnung zu unterschreiten. Das Licht wird durch eine hohle Messspitze geleitet, welche am Ende eine mikroskopische Apertur besitzt. Die Probe wird wenige Nanometer entfernt von der Austrittsstelle des Lichts positioniert. Das reflektierte oder transmittierte Licht gelangt in einen hochempfindlichen Detektor, dessen Ausgangssignal zur Bilddarstellung benutzt wird.