Skip to main content
Disciplines
Automotive Business IT + Informatics Construction + Real Estate Electrical Engineering + Electronics Energy + Sustainability Insurance + Risk Finance + Banking Management + Leadership Marketing + Sales Mechanical Engineering + Materials
Events
DE
EN
Books
Journals
Topic Page
Marketing
Start single access now
Access for companies
EXTENDED SEARCH
Log in
Top
Published in:
Introduction Read chapter Read first chapter

2015 | OriginalPaper | Chapter

8. Speckle Metrology

Authors : Ulf Schnars, Claas Falldorf, John Watson, Werner Jüptner

Published in: Digital Holography and Wavefront Sensing

Publisher: Springer Berlin Heidelberg

Log in

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config
loading …

Abstract

Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) is a method, similar HI, to measure optical path changes caused by deformation of opaque bodies or refractive index variations within transparent media (Helmers et al. in Proceedings of 4th international workshop on automatic processing of fringe patterns. Elsevier, New York, pp 673–679, 2001,[82], Lokberg, Phys Techn 11:16-22, 1980, [147]).

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now
previous chapter Computational Wavefield Sensing
Metadata
Title
Speckle Metrology
Authors
Ulf Schnars
Claas Falldorf
John Watson
Werner Jüptner
Copyright Year
2015
Publisher
Springer Berlin Heidelberg
Book
Digital Holography and Wavefront Sensing

Print ISBN: 978-3-662-44692-8

Electronic ISBN: 978-3-662-44693-5

Copyright Year: 2015

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-44693-5_8