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Published in:

01-11-2012

Study of latch-up immunization in bulk CMOS integrated circuits exposed to transient ionizing radiation

Authors: RuiBin Li, Wei Chen, DongSheng Lin, ShanChao Yang, XiaoYan Bai, GuiZhen Wang, Yan Liu, Chao Qi, Qiang Ma

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Title: Study of latch-up immunization in bulk CMOS integrated circuits exposed to transient ionizing radiation
Authors: RuiBin Li
Wei Chen
DongSheng Lin
ShanChao Yang
XiaoYan Bai
GuiZhen Wang
Yan Liu
Chao Qi
Qiang Ma
Publication date: 01-11-2012
Publisher: SP Science China Press
Published in: Science China Technological Sciences / Issue 11/2012
Print ISSN: 1674-7321
Electronic ISSN: 1869-1900
DOI: https://doi.org/10.1007/s11431-012-4895-5

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