Top

Journal of Electronic Testing

Published in:

01-02-2004

A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques

Authors: D. Appello, A. Fudoli, V. Tancorre, P. Bernardi, F. Corno, M. Rebaudengo, M. Sonza Reorda

Published in: Journal of Electronic Testing | Issue 1/2004

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config

AI-assisted search

Off

previous article Greedy Tree Growing Heuristics on Block-Test Scheduling Under Power Constraints

next article Testing and Reliability Techniques for High-Bandwidth Embedded RAMs

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 102.000 Bücher
über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Maschinenbau + Werkstoffe
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Maschinenbau + Werkstoffe

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

inform now

ATZelectronics worldwide

ATZlectronics worldwide is up-to-speed on new trends and developments in automotive electronics on a scientific level with a high depth of information.

Order your 30-days-trial for free and without any commitment.

inform now

ATZelektronik

Die Fachzeitschrift ATZelektronik bietet für Entwickler und Entscheider in der Automobil- und Zulieferindustrie qualitativ hochwertige und fundierte Informationen aus dem gesamten Spektrum der Pkw- und Nutzfahrzeug-Elektronik.

Lassen Sie sich jetzt unverbindlich 2 kostenlose Ausgabe zusenden.

inform now

Title: A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques
Authors: D. Appello
A. Fudoli
V. Tancorre
P. Bernardi
F. Corno
M. Rebaudengo
M. Sonza Reorda
Publication date: 01-02-2004
Publisher: Kluwer Academic Publishers
Published in: Journal of Electronic Testing / Issue 1/2004
Print ISSN: 0923-8174
Electronic ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1023/B:JETT.0000009315.57771.94

Springer Professional

Please log in to get access to your license.

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Springer Professional "Technik"

Springer Professional "Wirtschaft"

ATZelectronics worldwide

ATZelektronik

Other articles of this Issue 1/2004

Testing and Reliability Techniques for High-Bandwidth Embedded RAMs

Control and Observation Structure for Analog Circuits with Current Test Data

A Graph-Based Approach to Power-Constrained SOC Test Scheduling

Generation and Verification of Tests for Analog Circuits Subject to Process Parameter Deviations

Classification of Defective Analog Integrated Circuits Using Artificial Neural Networks

Test Technology Technical Council Newsletter