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Published in:

15-10-2015

Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si₈₀Ge₂₀ Polycrystalline Alloys

Authors: D. Vasilevskiy, J.-M. Simard, T. Caillat, R. A. Masut, S. Turenne

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Title: Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si80Ge20 Polycrystalline Alloys
Authors: D. Vasilevskiy
J.-M. Simard
T. Caillat
R. A. Masut
S. Turenne
Publication date: 15-10-2015
Publisher: Springer US
Published in: Journal of Electronic Materials / Issue 3/2016
Print ISSN: 0361-5235
Electronic ISSN: 1543-186X
DOI: https://doi.org/10.1007/s11664-015-4101-1