15.10.2015
Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si80Ge20 Polycrystalline Alloys
Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 3/2016
EinloggenAktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by