Defekte und Fehler

Für den Test ist es wichtig zu wissen, welche Fehler in einer Schaltung tatsächlich auftreten können und wie häufig die einzelnen Fehler sind, denn der Test soll gerade die häufigsten Fehler zuverlässig erfassen. Fehlerhafte Chips entstehen, wenn durch Störungen im Fertigungsprozeß nicht die gewünschten Strukturen auf der Chipoberfläche erzeugt werden. Solche Abweichungen werden Defekte genannt. Die von ihnen verursachten Änderungen in der Transistor-Netzliste und im Verhalten der Schaltung werden als Fehler bezeichnet. Jedem Fehler liegt mindestens ein Defekt zugrunde. Aber nicht jeder Defekt verursacht einen Fehler, denn Defekte in Bereichen, wo keine Layoutobjekte der Schaltung liegen, sind bedeutungslos.