Skip to main content
Top
Published in: International Journal of Control, Automation and Systems 5/2017

01-10-2017 | Regular Papers

Development of a new automatic fault diagnosis system for fine pattern transmission lines

Authors: Seok-Ho Noh, Jae-Hwan Lim, Jee-Youl Ryu

Published in: International Journal of Control, Automation and Systems | Issue 5/2017

Log in

Activate our intelligent search to find suitable subject content or patents.

search-config
loading …

Dont have a licence yet? Then find out more about our products and how to get one now:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadata
Title
Development of a new automatic fault diagnosis system for fine pattern transmission lines
Authors
Seok-Ho Noh
Jae-Hwan Lim
Jee-Youl Ryu
Publication date
01-10-2017
Publisher
Institute of Control, Robotics and Systems and The Korean Institute of Electrical Engineers
Published in
International Journal of Control, Automation and Systems / Issue 5/2017
Print ISSN: 1598-6446
Electronic ISSN: 2005-4092
DOI
https://doi.org/10.1007/s12555-016-0345-7

Other articles of this Issue 5/2017

International Journal of Control, Automation and Systems 5/2017 Go to the issue