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Journal of Electronic Testing

Published in:

17-10-2019

Editorial

Author: Vishwani D. Agrawal

Published in: Journal of Electronic Testing | Issue 5/2019

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I am pleased to announce the 2018 JETTA-TTTC Best Paper Award. We congratulate the winning authors, Shyue-Kung Lu, Hao-Cheng Jheng, Hao-Wei Lin and Masaki Hashizume, for their paper “Address Remapping Techniques for Enhancing Fabrication Yield of Embedded Memories,” that appeared in Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Volume 34, Number 4, pp. 435–446, August 2018. See details following this editorial. …

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Title: Editorial
Author: Vishwani D. Agrawal
Publication date: 17-10-2019
Publisher: Springer US
Published in: Journal of Electronic Testing / Issue 5/2019
Print ISSN: 0923-8174
Electronic ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1007/s10836-019-05835-7

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