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2020 | OriginalPaper | Chapter

5. Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen

Author : Titu-Marius I. Băjenescu

Published in: Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Publisher: Springer Fachmedien Wiesbaden

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Zusammenfassung

Ganz allgemein ist die Testbarkeit die Anzahl der Schritte, die zur Berechnung der Testmuster erforderlich ist, aber es kann auch die Zeit zur Durchführung eines Tests sein. Der Aufwand wird von der eingesetzten Methodik abhängen, doch in viel größerem Maße wird er vom Aufbau einer zu prüfenden Schaltung bestimmt. Der Test hängt von der Anzahl der Elemente (Transistoren, Verbindungen) ab und soll mit vertretbarem Aufwand erfolgen. In diesem Kapitel werden elektrische und funktionelle Tests und die Testbarkeit von elektronischen Bauteilen diskutiert. Anhand von Umweltbedingungen (Abschn. 5.1.1) werden Umwelt- und spezielle Tests komplexer ICs vorgestellt (Abschn. 5.1.2). Zunächst werden die Probleme im Zusammenhang mit der elektrischen Prüfung von ICs identifiziert (Abschn. 5.1.3). Dann werden die spezifischen Probleme der Mikrosysteme vorgestellt, bei denen die Endprüfung komplex ist, weil man auch die mechanischen Elemente prüfen muss (Abschn. 5.1.4). Eine Überprüfung der Auswahl durch Tests mit Fokus auf Speicher (Abschn. 5.3) und Mikroprozessoren (Abschn. 5.7) einschließlich Funktionstests (Abschn. 6.4) rundet das Bild der Bauteilprüfung ab. Schließlich werden in den letzten beiden Unterkapiteln die Testfragen der elektronischen Komponenten aus der Sicht der Anwender betrachtet: die Testbarkeit von Elektronik- und Telekommunikationssystemen (Abschn. 5.8) und einige Empfehlungen für Systemhersteller zu den Eingangskontrolltests von elektronischen Komponenten (Abschn. 5.9).

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Metadata
Title
Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen
Author
Titu-Marius I. Băjenescu
Copyright Year
2020
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2_5