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Published in:
1989 | OriginalPaper | Chapter
Testverfahren für integrierte Schaltungen
Author : Prof. Dr.-Ing. Hans-Ulrich Post
Published in: Entwurf und Technologie hochintegrierter Schaltungen
Publisher: Vieweg+Teubner Verlag
Included in: Professional Book Archive
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Mit der wachsenden Systemkomplexität steigt auch der Testaufwand der hochintegrierten Schaltungen. Um zu vermeiden, daß die Testzeit zum wesentlichen Kostenfaktor einer integrierten Schaltung wird, muß schon beim Schaltungsentwurf die spätere Testbarkeit einbezogen werden. Zur Verbesserung der Testbarkeit sind verschiedene Verfahren [Micz86] [McCI86] entwickelt worden, von denen die wichtigsten vorgestellt werden.