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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

Accelerated Lifetime Testing

verfasst von : Francisco Louzada-Neto

Erschienen in: International Encyclopedia of Statistical Science

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Excerpt

Accelerated life tests (ALT) are efficient industrial experiments for obtaining measures of a device reliability under the usual working conditions. …

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Literatur
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Metadaten
Titel
Accelerated Lifetime Testing
verfasst von
Francisco Louzada-Neto
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-04898-2_103