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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

Aluminum Trace Elements Analyses Using Epsilon 1 Meso EDXRF Technique

verfasst von : Hussain Al Halwachi

Erschienen in: Light Metals 2020

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

The amount of alloying materials and trace elements in aluminum metal are usually measured by Optical emission spectroscopy (OES) technique, which is an accurate and reliable method applied in most aluminum smelters and downstream industries. In absence of an OES machine, it is extremely difficult to decide the amount of alloying materials required for each aluminum alloy, and certification of final aluminum product cannot be carried out. In this study, a new analytical application is developed as a backup for OES using Epsilon1 Meso Energy Dispersive machine (EDXRF). The application is capable to measure the trace elements in aluminum metal with high accuracy.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat Willis, J. P. & Duncan, A. R., 2008. Understanding XRF Spectrometry, Volume 1. Almelo: PANalytical. Willis, J. P. & Duncan, A. R., 2008. Understanding XRF Spectrometry, Volume 1. Almelo: PANalytical.
2.
Zurück zum Zitat Brouwer, P. 2003. Theory of XRF: Getting acquainted with the principles. Almelo: PANalytical BV. Brouwer, P. 2003. Theory of XRF: Getting acquainted with the principles. Almelo: PANalytical BV.
Metadaten
Titel
Aluminum Trace Elements Analyses Using Epsilon 1 Meso EDXRF Technique
verfasst von
Hussain Al Halwachi
Copyright-Jahr
2020
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-36408-3_27

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.