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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 11/2014

01.11.2014

Analysis of 3D TSV Vertical Interconnection Using Pre-applied Nonconductive Films

verfasst von: Yongwon Choi, Jiwon Shin, Kyung-lim Suk, Young Soon Kim, Il Kim, Kyung-Wook Paik

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 11/2014

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Metadaten
Titel
Analysis of 3D TSV Vertical Interconnection Using Pre-applied Nonconductive Films
verfasst von
Yongwon Choi
Jiwon Shin
Kyung-lim Suk
Young Soon Kim
Il Kim
Kyung-Wook Paik
Publikationsdatum
01.11.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 11/2014
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-014-3319-7

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