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Erschienen in:
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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

Automated Test Case Generation with SMT-Solving and Abstract Interpretation

verfasst von : Jan Peleska, Elena Vorobev, Florian Lapschies

Erschienen in: NASA Formal Methods

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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In this paper we describe an approach for automated model-based test case and test data generation based on constraint types well known from bounded model checking. Our main contribution consists of a demonstration showing how this process can be considerably accelerated by using abstract interpretation techniques for preliminary explorations of the model state space. The techniques described support models for concurrent synchronous reactive systems under test with clocks and dense-time.

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Metadaten
Titel
Automated Test Case Generation with SMT-Solving and Abstract Interpretation
verfasst von
Jan Peleska
Elena Vorobev
Florian Lapschies
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
NASA Formal Methods

Print ISBN: 978-3-642-20397-8

Electronic ISBN: 978-3-642-20398-5

Copyright-Jahr: 2011

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-20398-5_22