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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 11/2015

01.11.2015

Characterization of the Microstructure of an AlN-Mullite-Al2O3 Ceramic Layer on WCu Composite Alloy for Microelectronic Application

verfasst von: Jiandong Zhu, Rong An, Chunqing Wang, Wei Zhang, Guangwu Wen

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 11/2015

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Metadaten
Titel
Characterization of the Microstructure of an AlN-Mullite-Al2O3 Ceramic Layer on WCu Composite Alloy for Microelectronic Application
verfasst von
Jiandong Zhu
Rong An
Chunqing Wang
Wei Zhang
Guangwu Wen
Publikationsdatum
01.11.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 11/2015
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-015-3961-8

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