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Erschienen in:
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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

6. Conclusion

verfasst von : SatyaKesh Dubey, Naina Narang, Parmendra Singh Negi, Vijay Narain Ojha

Erschienen in: LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Here, LabVIEW programming for instrument control is employed to develop a software solution for metrological applications. Considering the common microwave measurements, examples are explained for understanding the LabVIEW programming techniques. The process for uncertainty evaluation is also given in detail to analyze the measured results.

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Metadaten
Titel
Conclusion
verfasst von
SatyaKesh Dubey
Naina Narang
Parmendra Singh Negi
Vijay Narain Ojha
Copyright-Jahr
2018
Verlag
Springer Singapore
Buch
LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements

Print ISBN: 978-981-10-6279-7

Electronic ISBN: 978-981-10-6280-3

Copyright-Jahr: 2018

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6280-3_6

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