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Erschienen in:
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2021 | OriginalPaper | Buchkapitel

Corrected Phase Reconstruction in Diffraction Phase Microscopy System

verfasst von : V. P. Bui, S. Gorelik, Z. E. Ooi, Q. Wang, C. E. Png

Erschienen in: Advances in Condition Monitoring and Structural Health Monitoring

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

This paper presents an approach for correcting phase reconstruction from the interferogram Diffraction phase microscopy (DPM) system if there exist artefacts around the defect features due to noises. By averaging local region around the artefacts of the unwrapped phase using a sliding window with iterative approach, the correct phase information can be retrieved. The reconstructed phase images after correction step demonstrate the ability of the proposed approach in extracting the correct phase data from the system.

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Metadaten
Titel
Corrected Phase Reconstruction in Diffraction Phase Microscopy System
verfasst von
V. P. Bui
S. Gorelik
Z. E. Ooi
Q. Wang
C. E. Png
Copyright-Jahr
2021
Verlag
Springer Singapore
Buch
Advances in Condition Monitoring and Structural Health Monitoring

Print ISBN: 978-981-15-9198-3

Electronic ISBN: 978-981-15-9199-0

Copyright-Jahr: 2021

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-15-9199-0_48

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