1999 | OriginalPaper | Buchkapitel
Correlative Microscopy and Probing in Materials Science
verfasst von : Giovanni Valdre’
Erschienen in: Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research
Verlag: Springer Netherlands
Enthalten in: Professional Book Archive
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by
Each procedure of microscopic investigation, depending on its purpose, has advantages and drawbacks. The inherent limitations of each method may be circumvented or at least minimized if a correlative application of different microscopic techniques is performed.