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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 1/2021

09.11.2020 | Original Research Article

Design and Analysis of a Dual-Metal-Implanted Triple-Material Cylindrical Gate-All-Around Nanowire FET with Negative Differential Resistance and Negative Transconductance Behaviors

verfasst von: Sadra Sadeghpoor Ajibisheh, Seyed Ali Sedigh Ziabari, Azadeh Kiani-Sarkaleh

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 1/2021

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Metadaten
Titel
Design and Analysis of a Dual-Metal-Implanted Triple-Material Cylindrical Gate-All-Around Nanowire FET with Negative Differential Resistance and Negative Transconductance Behaviors
verfasst von
Sadra Sadeghpoor Ajibisheh
Seyed Ali Sedigh Ziabari
Azadeh Kiani-Sarkaleh
Publikationsdatum
09.11.2020
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 1/2021
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-020-08572-2

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