2014 | OriginalPaper | Buchkapitel
10. Dynamic Testing of Analog-to-Digital Converters by Means of the Sine-Fitting Algorithms
verfasst von : Dario Petri, Daniel Belega, Dominique Dallet
Erschienen in: Design, Modeling and Testing of Data Converters
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by