Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Erschienen in:
3D-Printed Sensor Array of Semiconducting Oxides Kapitel lesen Erstes Kapitel lesen

2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

Elastic Coupling at Epitaxial Multiferroic Interfaces: In Situ X-Ray Studies of Electric Field Induced Strain

verfasst von : C. T. Koops, S. B. Hrkac, M. Abes, P. Jordt, J. Stettner, A. Petraru, H. Kohlstedt, V. Hrkac, N. Wolff, L. Kienle, O. H. Seeck, G. Nisbet, O. M. Magnussen, B. M. Murphy

Erschienen in: 4th International Conference on Nanotechnologies and Biomedical Engineering

Verlag: Springer International Publishing

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

The elastic coupling in multiferroic materials and even more so in magnetoelectric composites plays an important role for the properties and function. In this study, the electrically induced strain at the epitaxial interface of 0.72Pb(Mn1/3Nb2/3)O3–0.28PbTiO3—CoFe2O4, a magnetoelectric composite, is characterized by in situ X-ray scattering experiment and transmission electron microscopy study. For the measured range all strain induced lattice changes are reversible ruling out plastic deformation. The surprisingly non-perfect elastic coupling of 87 ± 7% in this epitaxial system can be explained by the presence of planar defects in the CFO film.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Vorheriges Kapitel The Influence of the External Magnetic Field on the Electronic Density of States of Quasi-1D System in the Mixed Phase of Superconductivity and Spin Density Wave
Nächstes Kapitel Investigation of the Electrochemical Properties of Lithium–Sulfur Cells with Sulfur Electrodes Based on Carbon Inverted Opals
Literatur
1.
2.
3.
Eerenstein, W., Wiora, M., Prieto, J.L., Scott, J.F., Mathur, N.D.: Nat. Mater. 6, 348 (2007)CrossRef
4.
Röbisch, V., Salzer, S., Urs, N., Reermann, J., Yarar, E., Piorra, A., Kirchhof, C., Lage, E., Höft, M., Schmidt, G., et al.: J. Mater. Res. 32, 1009 (2017)CrossRef
5.
Sahoo, S., Polisetty, S., Duan, C.-G., Jaswal, S.S., Tsymbal, E.Y., Binek, C.: Phys. Rev. B 76, 092108 (2007)CrossRef
6.
Liverts, E., Grosz, A., Zadov, B., Bichurin, M.I., Pukinskiy, Y.J., Priya, S., Viehland, D., Paperno, E.: J. Appl. Phys. 109, 07D703 (2011)CrossRef
7.
Zhu, M., Nan, T., Peng, B., Zhang, Y., Zhou, Z., Yang, X., Ren, W., Sun, N., Liu, M.: IEEE Trans. Magn. 53, 1 (2017)CrossRef
8.
Zheng, R., Wang, Y., Liu, Y., Gao, G., Fei, L., Jiang, Y., Chan, H., Li, X., Luo, H., Li, X.: Mater. Chem. Phys. 133, 42 (2012)CrossRef
9.
10.
Zhang, S.J., Lee, S.M., Kim, D.H., Lee, H.Y., Shrout, T.R.: J. Am. Ceram. Soc. 91, 683 (2008)CrossRef
11.
Wang, Z., Viswan, R., Hu, B., Li, J., Harris, V., Viehland, D.: J. Appl. Phys. 111, 034108 (2012)CrossRef
12.
Bozorth, R.M., Tilden, E.F., Williams, A.J.: Phys. Rev. 99, 1788 (1955)CrossRef
13.
14.
Bai, F., Wang, N., Li, J., Viehland, D., Gehring, P., Xu, G., Shirane, G.: J. Appl. Phys. 96, 1620 (2004)CrossRef
15.
Abes, M., Koops, C.T., Hrkac, S.B., Greve, H., Quandt, E., Collins, S.P., Murphy, B.M., Magnussen, O.M.: Appl. Phys. Lett. 102, 011601 (2013)CrossRef
16.
Dosch, H.: Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces—Evanescent X-Ray and Neutron Scattering, Springer Tracts in Modern Physics, vol. 126. Springer (1992)
17.
18.
Abes, M., Koops, C., Hrkac, S., McCord, J., Urs, N., Wolff, N., Kienle, L., Ren, W., Bouchenoire, L., Murphy, B., Magnussen, O.M.: Phys. Rev. B 93, 195427 (2016)CrossRef
19.
Dörr, K., Nilani-Zeneli, O., Herklotz, A., Rata, A.D., Boldyreva, K., Kim, J.-W., Dekker, M.C., Nenkov, K., Schultz, L., Reibold, M.: Eur. Phys. J. B 71, 361 (2009)CrossRef
20.
Weissm¨uller, J., Markmann, J., Grewer, M., Birringer, R.: Acta Mater. 59, 4366 (2011)
21.
Metadaten
Titel
Elastic Coupling at Epitaxial Multiferroic Interfaces: In Situ X-Ray Studies of Electric Field Induced Strain
verfasst von
C. T. Koops
S. B. Hrkac
M. Abes
P. Jordt
J. Stettner
A. Petraru
H. Kohlstedt
V. Hrkac
N. Wolff
L. Kienle
O. H. Seeck
G. Nisbet
O. M. Magnussen
B. M. Murphy
Copyright-Jahr
2020
Buch
4th International Conference on Nanotechnologies and Biomedical Engineering

Print ISBN: 978-3-030-31865-9

Electronic ISBN: 978-3-030-31866-6

Copyright-Jahr: 2020

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-31866-6_38

Neuer Inhalt

    Bildnachweise