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Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 5/2004

01.05.2004 | Amorphous, Vitreous, and Porous Semiconductors

ESR studies of nanocrystalline silicon films obtained by pulsed laser ablation of silicon targets

verfasst von: V. Ya. Bratus, S. M. Okulov, É. B. Kaganovich, I. M. Kizyak, É. G. Manoilov

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 5/2004

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Metadaten
Titel
ESR studies of nanocrystalline silicon films obtained by pulsed laser ablation of silicon targets
verfasst von
V. Ya. Bratus
S. M. Okulov
É. B. Kaganovich
I. M. Kizyak
É. G. Manoilov
Publikationsdatum
01.05.2004
Verlag
Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 5/2004
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/1.1755899

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