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Erschienen in:

2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

38. Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy

verfasst von : Akira Sekiyama

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Hard X-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES) is a kind of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), photoelectron spectroscopy by use of a higher-energy excitation (from synchrotron radiation, in most cases) than a conventional

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Tanuma, S., Powell, C.J., Penn, D.R.: Calculations of electron inelastic mean free path. IX. Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range. Surf. Interface Anal. 43, 689–713 (2011)CrossRef

Trzhaskovskaya, M.B., Nefedov, V.I., Yarzhemsky, V.G.: Photoelectron angular distribution parameters for elements Z = 1 to Z = 54 in the photoelectron energy range 100–5000 eV. At. Data Nucl. Data Table 77, 97–159 (2001)CrossRef

Trzhaskovskaya, M.B., Nefedov, V.I., Yarzhemsky, V.G.: Photoelectron angular distribution parameters for elements Z = 55 to Z = 100 in the photoelectron energy range 100–5000 eV. At. Data Nucl. Data Table 82, 257–311 (2002)CrossRef

Trzhaskovskaya, M.B., Nikulin, V.K., Nefedov, V.I., Yarzhemsky, V.G.: Non-dipole second order parameters of the photoelectron angular distribution for elements Z = 1–100 in the photoelectron energy range 1–10 keV. At. Data Nucl. Data Table 92, 245–304 (2006)CrossRef

Yamaguchi, J., Sekiyama, A., Imada, S., Fujiwara, F., Yano, M., Miyamachi, T., Funabashi, G., Obara, M., Higashiya, A., Tamasaku, K., Yabashi, M., Ishikawa, T., Iga, F., Takabatake, T., Suga, S.: Kondo lattice effects and the collapse of lattice coherence in Yb_1-xLu_xB₁₂ studied by hard X-ray photoelectron spectroscopy. Phys. Rev. B 79, 125121 (2009)CrossRef

Sekiyama, A.: High-energy photoemission spectroscopy for investigating bulk electronic structures of strongly correlated systems. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 208, 100–104 (2016)CrossRef

Suzuki, M., Kawamura, N., Mizumaki, M., Urata, A., Maruyama, H., Goto, S., Ishikawa, T.: Helicity-modulation technique using diffractive phase retarder for measurements of X-ray magnetic circular dichroism. Jpn. J. Appl. Phys. 37, L1488–L1490 (1998)CrossRef

Fujiwara, H., Naimen, S., Higashiya, A., Kanai, Y., Yomosa, H., Yamagami, K., Kiss, T., Kadono, T., Imada, S., Yamasaki, A., Takase, K., Otsuka, S., Simizu, T., Shingubara, S., Suga, S., Yabashi, M., Tamasaku, K., Ishikawa, T., Sekiyama, A.: Polarized hard X-ray photoemission system with micro-positioning technique for probing ground state symmetry of strongly correlated materials. J. Synchrotron Rad. 23, 735–742 (2016)CrossRef

Kobayashi, K., Kobata, M., Iwai, H.: Development of a laboratory system hard X-ray photoelectron spectroscopy and its applications. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 190, 210–221 (2013)CrossRef

10.

Sing, M., Berner, G., Goß, K., Muller, A., Ruff, A., Wetseherk, A., Thiel, S., Mannhart, J., Pauli, S.A., Schneider, C.W., Willmott, P.R., Gorgoi, M., Schäfers, F., Claessen, R.: Profiling the interface electron gas of LaAlO₃/SrTiO₃ heterostructures with hard X-ray photoelectron spectroscopy. Phys. Rev. Lett. 102, 176805 (2009)CrossRef

11.

Fujiwara, H., Sekiyama, A., Mo, S.-K., Allen, J.W., Yamaguchi, J., Funabashi, G., Imada, S., Metcalf, P., Higashiya, A., Yabashi, M., Tamasaku, K., Ishikawa, T., Suga, S.: Evidence for the constancy of U in the Mott transition V₂O₃. Phys. Rev. B 84, 075117 (2011)CrossRef

12.

Sekiyama, A., Yamaguchi, J., Higashiya, A., Obara, M., Sugiyama, H., Kimura, M.Y., Suga, S., Imada, S., Nekrasov, I.A., Yabashi, M., Tamasaku, K., Ishikawa, T.: The prominent 5d-orbital contribution to the conduction electrons in gold. New J. Phys. 12, 043045 (2010)CrossRef

13.

Mori, T., Kitayama, S., Kanai, Y., Naimen, S., Fujiwara, H., Higashiya, A., Tamasaku, K., Tanaka, A., Terashima, K., Imada, S., Yasui, A., Saitoh, Y., Yamagami, K., Yano, K., Matsumoto, T., Kiss, T., Yabashi, M., Ishikawa, T., Suga, S., Onuki, Y., Ebihara, T., Sekiyama, A.: Probing strongly correlated 4f-orbital symmetry of the ground state in Yb compounds by linear dichroism in core-level photoemission. J. Phys. Soc. Jpn. 83, 123702 (2014)CrossRef

14.

Kanai, Y., Mori, T., Naimen, S., Yamagami, K., Fujiwara, H., Higashiya, A., Kadono, T., Imada, S., Kiss, T., Tanaka, A., Tamasaku, K., Yabashi, M., Ishikawa, T., Iga, F., Sekiyama, A.: Evidence for Γ8 ground-state symmetry of cubic YbB12 probed by linear dichroism in core-level photoemission. J. Phys. Soc. Jpn. 84, 073705 (2015)CrossRef

15.

Suga, S., Sekiyama, A.: High energy photoelectron spectroscopy of correlated electron systems and recoil effects in photoelectron emission. Eur. Phys. J. Spec. Topic 169, 227–235 (2009)CrossRef

16.

Åsbrink, L.: The photoelectron spectrum of H₂. Chem. Phys. Lett. 7, 549–552 (1970)CrossRef

17.

Takata, Y., Kayanuma, Y., Yabashi, M., Tamasaku, K., Nishino, Y., Miwa, D., Harada, Y., Horiba, K., Shin, S., Tanaka, S., Ikenaga, E., Kobayashi, K., Senba, Y., Ohashi, H., Ishikawa, T.: Recoil effects of photoelectrons in a solid. Phys Rev. B 75, 233404 (2007)CrossRef

18.

Takata, Y., Kayanuma, Y., Oshima, S., Tanaka, S., Yabashi, M., Tamasaku, K., Nishino, Y., Matsunami, M., Eguchi, R., Chainani, A., Oura, M., Takeuchi, T., Senba, Y., Ohashi, H., Shin, S., Ishikawa, T.: Recoil effects of photoelectrons in the Fermi edge of simple metals. Phys. Rev. Lett. 101, 137601 (2008)CrossRef

19.

Suga, S., Sekiyama, A., Fujiwara, H., Nakatsu, Y., Miyamachi, T., Imada, S., Baltzer, P., Niitaka, S., Takagi, H., Yoshimura, K., Yabashi, M., Tamasaku, K., Higashiya, A., Ishikawa, T.: Do all nuclei recoil on photoemission in compounds? New J. Phys. 11, 073025 (2009)CrossRef

20.

Suga, S., Sekiyama, A.: Soft X-ray ARPES and Fermiology of strongly correlated electron systems and PES by hard X-ray and extremely low energy photons. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenomen. 181, 48–55 (2010)CrossRef

Titel: Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy
verfasst von: Akira Sekiyama
Verlag: Springer Singapore
Buch: Compendium of Surface and Interface Analysis
Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018
DOI: https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_38

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