2017 | OriginalPaper | Buchkapitel
In Situ X-Ray Synchrotron Profile Analysis During High Pressure Torsion of Ti
verfasst von : Erhard Schafler, Michael B. Kerber, Florian Spieckermann, Torben Fischer, Roman Schuster, Cornelia von Baeckmann
Erschienen in: Magnesium Technology 2017
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